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網路分析儀如何與探針台連接

發布時間: 2023-05-23 10:31:57

⑴ 全自動生化分析儀主機和電腦連接不上怎麼

是不是鏈接電腦的線有問題 換一根 如果沒辦法就只能找工程師了

⑵ 探針盒子是什麼東西

信號傳輸探測工具。

探針盒子一般指探針,探針卡是一種測試介面,主要對裸芯進行測試,通過連接測試機和晶元,通過傳輸信號對晶元參數進行測試。

用途

是將探針卡上的探針直接與晶元上的焊墊或凸塊直接接觸,引出晶元訊號,再配合周邊測試儀器與軟體控制達到自動化量測的目的。探針卡應用在IC尚未封裝前,針對裸晶系以探針做功能測試,篩選出不良緩拍品、再進行之後的封裝工程。因此,探針卡是IC製造中對製造成本影響相當大盯啟的重要製程之一。

安全問題

2019年央視3·15晚會曝光了一種WiFi探針盒子,這種盒子能在用戶毫不知情的情況下,獲取用戶手機MAC地址,並將其轉換成用戶手機號。安全專家介紹,WiFi探針擾則羨盒子確實可以通過技術手段獲取個人信息,用戶為避免信息泄露,可以在出門後關閉手機連接WiFi的功能,並不要在一些不合規的APP上提供真實個人信息。

防範措施

(1)、不隨意安裝非正規商家應用App、及各類廣告插件App,使用正規合法App是保護個人信息的第一步。

(2)、長時間不使用WiFi可關閉網路自動連接,仔細辨別免費WiFi信號,不隨意連接公共WiFi,設置家庭網路的WiFi賬號密碼並定期更換。

以上內容參考網路-探針盒子

⑶ 網路分析儀如何與探針台連接

網路分析儀與探針座的電纜線接頭聯系在一起的,是用來測產品的傳輸,阻抗,駐波等指標。

⑷ 溫控探針台的用途

溫控探針冷熱台是為液晶研究設計的,為了給樣品施加電廠或測量樣品的型號,在常規設備的基礎上增加了內部電極,並配有液晶池和專用送樣器。同時由於熱台腔室的密閉性,可以控制腔室里的環境氛圍,如濕度、真空或通入內部氣體,並可將熱態與紅外及X射線衍射設備聯用。那主要應用於礦物中流體包裹體,熔融包裹體,另可用於觀察各類型材料。冷熱台可在-190℃-600℃范圍內空溫。允許光學觀察和樣品氣體環境控制
你好,溫控探針冷熱台採用自適應PID演算法,實現了高精度溫度定點控制以及高水平的溫度跟隨功能。可使微型平台快速溫度均衡。

溫控探針冷熱台歌部件的作用
1樣品台:是定位晶源或晶元的部件設備。通常會依據晶圓的尺寸來設計大小,並配備了相應的精細挪動定位功用
2光學元件:這個部件的作用使得用戶可以從視覺上縮小察看待測物,以便准確地將探針對准並放置在待測晶圓/晶元的測量點上。有的採用平面變碼凱焦顯微鏡,有的採用數碼相機,或者兩者兼有
3操縱器:探針台運用操縱器將探針放置在被好纖測物上,它可以很容易的定位探針並疾速固定它們。通常運用磁鐵或真空把它們固定在適當的地位。一旦固定,操作器可以在x、y和z方向上精確定位探針。並且在某些狀況下提供旋轉運動。
4探針:主要分普通DC測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針等。它的尺寸和資料取決於被探測樣品的尺寸和所需測量類型決定。其針尖直接接觸被測測樣品,針臂應與針尖配合使用。
5射頻探針:射友模仿頻探針的實質為適配器,將晶元測量介面轉為同軸或波導埠。罕見的射頻探針有GSG型、GS型、GSSG型等。射頻探針的主要參數有高2工作頻率、探針尖距等。目前,同軸介面的射v頻探針頻率可達110GHz波導介面的射頻探針頻率高達1.1THz
6網路分析儀:雖然傳統網路分析儀也能無效地測量有源器件,例如放大器、混頻器和轉換器,但它們不能提供以後研發與消費工程師所盼望的精度、易用性和速2度。希望我的回答能幫到你。

⑸ 如何用示波器測晶振

問題一:示波器如何測量晶振是否起振? 示波器負探頭接地,正探頭接晶振的正端,示波器會有相關頻率的正弦波和頻率值。

問題二:示波器怎麼測試晶振的波形 晶振在電路上先通電後,要用示波器10倍檔探頭接晶振任意一端,探頭接地端接地。

問題三:示波器怎樣測量晶振? 樓上說的基本對。。但是晶振要先加電壓
普通數字示波器的測量精度由示波器的采樣率決定的,但如果你用的是模擬示波器,那麼精度是最高的。
建議學習近代電子測量。

問題四:如何用數字示波器測量晶振的輸出頻率?謝謝 可以直接測量,探頭接地夾子接在MCU的接地端,探頭探針直接測試晶體的任一一個引腳即可。兩個引腳的幅度不太一樣,但頻率一樣。

問題五:怎麼測量一個晶振的好壞? 一個小技巧:沒有示波器情況下如何測量晶振是否起振。
可以用萬用表測量晶振兩個引腳電壓是否是晶元工作電壓的一半,比如工常電壓是5V則是否是2.5V左右。另外如果用鑷子碰晶體另外一個腳,這個電壓有明顯變化,證明是起振了的

問題六:怎麼用示波器測量四角無源晶振的頻率 示波器負探頭接地,正探頭接晶振的正端,示波器會有相關頻率的正弦波和頻率值。
示波器是一種用途十分廣泛的電子測量儀器。它能把肉眼看不見的電信號變換成看得見的圖像,便於人們研究各種電現象的變化過程。示波器利用狹窄的、由高速電子組成的電子束,打在塗有熒光物質的屏面上,就可產生細小的光點(這是傳統的模擬示波器的工作原理)。在被測信號的作用下,電子束就好像一支筆的筆尖,可以在屏面上描繪出被測信號的瞬時值的變化曲線。利用示波器能觀察各種不同信號幅度隨時間變化的波形曲線,還可以用它測試各種不同的電量,如電壓、電流、頻率、相位差、調襲談幅度等等。

問題七:如何用萬用表測量晶振拍橋碰 將晶體從PCB上拆下,用萬用表R×10k擋測量引腳兩端,好的晶體應為無窮大。但這樣也只能測量晶體的絕緣電阻,僅此而已。事實上,晶體的絕緣電阻大於500MOhm,這個級別的絕緣萬用表也是測量不了的。真要想測量絕緣電阻,需要用到絕緣電阻測試儀。
搭一個振盪電路,用頻率計和示波器測量。這已經是業余條件下,最好的選擇了。但也只能判斷晶體能夠起振及簡單的判斷起振幅度。更多的石英晶體諧振器的特性和參數仍然測量不到。而且由於振盪槽路上的誤差及激勵電平不能准確的設定,還是沒有辦法判斷晶體的准確諧振頻率值。
使用阻抗計測量。正如網友「pizeoelect」所說,阻抗計相比較而言,價格較低,而且能准確設置激勵電平和測量頻率,是個不錯的選擇。但測量精度有限,而且看不到晶體的特性,現在已經很少有人使用。
網路分析儀測量。根據國際電工委會對石英晶體諧振器的定義,如果想要真正測量到晶體的特性參數,最常用的方法,就是使用網路分析儀測量了。目前大多數人常用的儀器主要是Saunders andAssociates, Inc.公司的250B網路分析儀。但你的測量測量結論需要專業機構認證,那麼你就還得用到Agilent的E5100之類的網路分析儀了。如果你需要測量溫度特性,你消敏還得需要配一個高低溫箱才行。具體測量方法請參考如下文獻:
一. Saunders andAssociates, Inc. Load resonantmeasurements of quartz crystals [EB/OL]. saun-ders-assoc/datasheets/paper/paper.pdf, 1998/2003- 09-12.二. IEC 444 1973. Basic method forthe measurementof resonance frequency and equivalent series resis-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].三. GJB 2138/3-2007 JA557型石英晶體諧振器詳細規范
至於你說的「用萬用表串接一個高頻電容來檢測」根本就不可能。你想想,晶體頻率少則幾M,高則幾十M什麼樣的萬用表能夠測量這么高頻率?另外,電路振盪是有條件的,不是一個電容就能解決的。希望你能明白。

問題八:可以用示波器測試出晶振的頻率嗎?謝謝 能測出來,不過沒辦法側得很准。有的示波器帶頻率顯示功能,沒有的話,你可以讀出來一個周期是多少,自己算頻率。示波器的帶寬倒不是很重要,因為帶寬不夠只是影響波形,不會影響到頻率

問題九:技術探討示波器怎麼測試晶振的波形 示波器負探頭接地,正探頭接晶振的正端,示波器會有相關頻率的正弦波和頻率值。
示波器是一種用途十分廣泛的電子測量儀器。它能把肉眼看不見的電信號變換成看得見的圖像,便於人們研究各種電現象的變化過程。示波器利用狹窄的、由高速電子組成的電子束,打在塗有熒光物質的屏面上,就可產生細小的光點(這是傳統的模擬示波器的工作原理)。在被測信號的作用下,電子束就好像一支筆的筆尖,可以在屏面上描繪出被測信號的瞬時值的變化曲線。利用示波器能觀察各種不同盯號幅度隨時間變化的波形曲線,還可以用它測試各種不同的電量,如電壓、電流、頻率、相位差、調幅度等等。

問題十:如何用示波器測實時時鍾信號和主時鍾信號 測量無小事,這是一個既簡單又復雜的問題,不同的使用場景有不同的考量。
如果需測量測實時時鍾信號和主時鍾信號
1. 如果是一般學校做實驗的話:
直接把示波器的探棒與晶振或者CLK信號引腳連接即可。如果探棒有10倍衰減的開關,最好打到10倍衰減的開關檔位,這樣可以減小對被測電路影響。你看到的波形可能是這樣的(用帶寬100M示波器測量100M的信號)
2. 進一步,如果對信號的形態有更高的要求,需要注意:
在帶寬選擇上,一般要求示波器的帶寬是被測量信號頻率的5倍。這是因為5次諧波已經足夠可以反映一般時鍾信號的波形形態了。你看到的波形可能是這樣的(用帶寬500M示波器測量100M的信號)
3.如果需要對上升和下降沿進行精確測量,由於上升和下降沿包含了更多的多次諧波,因此則需要對示波器的響應和帶寬作進行進一步考慮。下圖分別是用1G和2G的示波器來觀察這個100M的信號。

⑹ 這是一份網路靶場入門攻略

近年來,國內外安全形勢日益嚴峻,網路安全問題日益凸顯。前有燃油運輸管道被堵,後有全球最大肉食品供應商被黑客入侵,這標志著越來越多的國家級關鍵基礎設施提供方,特種行業,以及大型公共服務業被黑客當作攻擊目標,加大對信息安全保障的投入迫在眉睫。除了軟硬體技術設備的投入之外,專業的安全人才重金難求已是公認的事實,據統計,20年我國信息安全人才缺口高達140萬,利用網路靶場可以體系,規范,流程化的訓練網安人才的特點打造屬於企業自己的安全維護隊伍是大勢所趨。

網路與信息安全是一個以實踐為基礎的專業,因此,建設網路安全實訓靶場,不僅僅讓靶場成為一個知識的學習中心,更是一個技能實踐中心,一個技術研究中心。網路攻防實訓靶場平台的建設,不僅要關注培訓教學業務的支撐建設,更要關注網路與信息安全技能綜合訓練場的建設。以支撐受訓人員課上課下的學習、攻防技能演練、業務能力評估、協同工作訓練和技術研究與驗證,以保證能貼近不同培訓業務的需要,並支持多維度量化每個參與者的各種能力,有計劃地提升團隊各個方面的技術能力。因此,建設一套實戰性強、知識覆蓋全面、綜合型的集培訓、網路攻防演練及競賽、測試於一體的網路靶場是非常有必要的

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網路靶場(Cyber Range)是一個供5方角色協同使用的網路系統模擬平台。用於支撐網路安全人才培養、網路攻防訓練、安全產品評測和網路新技術驗證。

網路安全人員要就攻防技術進行訓練、演練;一項新的網路技術要試驗,不能在互聯網上進行(造成不可逆的破壞),於是需要建立網路靶場,把網路的要素虛擬到網路靶場。

在網路靶場中進行網路安全活動,不僅可以避免對現實資源的佔用和消耗,還可以做到對資源的反復利用。每一次安全試驗造成的傷害程度都是可控的、可檢測的,試驗結束後還能夠對收集的試驗數據進行分析和研究。網路靶場在不影響真實環境的情況下可以提高網路安全從業人員的技術,也可以發現安全產品的漏洞從而提升安全產品的性能與安全性。

網路靶場共有五種角色:黃、白、紅、藍、綠。

黃方是「導調」角色,整個網路試驗的「導演」,負責:

1、設計試驗

2、控制試驗:開始、停止、恢復、停止

3、查看試驗:查看試驗的進度、狀態、詳細過程

白方是網路靶場平台「管理」角色,靶場試驗「劇務」,負責試驗開始前的准備工作和試驗進行時的「日常事務」處理:

1、試前構建目標網路、模擬網路環境等;

2、試中負責系統運維等;

3、試後回收和釋放資源等。

紅方是「攻擊」角色,靶場試驗的「反派演員」,與藍方相對,攻防演練中向藍方發起攻擊。

藍方是「防禦」角色,靶場試驗的「正派演員」,與紅方相對,攻防演練中抵禦紅方攻擊。

綠方是「檢測」角色,靶場試驗的「監視器」,監控紅藍兩方在演練中的一舉一動,具體負責:

1、監測當前紅藍方的具體行為

2、當紅藍方攻擊防守成功,研判還原成功的過程、攻擊手法、防禦方法

3、監測紅方違規操作

4、試驗或試驗片斷進行定量和定性的評估

5、分析試驗的攻防機理(比如針對新型蠕蟲分析其運行、傳播機理)

試驗開始前,「導演」黃方想定攻防試驗的具體內容和任務目標,確定參與試驗的人員安排,設計試驗的具體網路環境、應用環境和具體的攻擊步驟。

修房首先從房屋結構入手,搭建網路靶場時最基礎的事情是明確網路結構、搭建網路拓撲。白方根據黃方在任務想定環節設計的網路拓撲圖生成路由器、交換機、計算機等設備,並將設備依照拓撲圖配置和連接,生成試驗所需的網路環境結構。

除了網路結構,目標網路還要為用戶訪問瀏覽器、收發郵件等操作提供應用環境,就像房屋在入住前要裝修出卧室、廚房,給住戶就寢、做飯提供空間一樣。有了相應的應用環境,才有空間進行相關的活動。

白方在生成目標網路後,還要根據黃方的設計將靶標系統接入目標網路。靶標,即攻擊的目標。靶標系統可以是實際的設備,也可以是虛擬化技術生成的靶標系統,針對不同的任務類型,靶標的設定會有所差異。

「活」的網路,除了網路結構完整,還要有活動發生。真實的網路環境時時刻刻都不是靜止的,每一分每一秒都有人聊天、打游戲、刷短視頻……白方在目標網路生成後,通過模擬這些活動流量和行為,並將其投放到網路靶場中,讓靶場「活」起來,更加接近實際的網路環境,而不是一片實驗室虛擬出的凈土。

模擬的流量分為近景和遠景兩種。近景流量指用戶操作行為,包含攻擊方的攻擊流量、防守方的防守流量以及用戶打開瀏覽器、收發郵件等訪問應用系統的行為流量,遠景流量即與試驗本身不相關的背景流量。

流量模擬和目標網路生成共同構成網路靶場的完整虛擬環境,讓後續的演習更加真實,也部分增加了演習的難度。

准備工作完成後,紅方和藍方根據黃方的試驗設計,在白方搭建的環境中展開攻防演練。紅方發起攻擊,藍方抵禦攻擊。

試驗進行時,綠方全程監控紅藍兩方在演練中的一舉一動,根據需求全面採集數據,掌握諸如攻擊發起方、攻擊類型、攻擊步驟、是否存在違規行為等信息,並通過可視化界面實時展示檢測結果。

試驗結束後,綠方基於前期採集的數據,進一步進行評分和分析工作。

小到某次攻防行為、大到某次攻防演習,綠方在給出量化評分的同時,還要給出具體評價,給出優點亮點和尚存在的缺點不足。

結合試驗表現和試驗目的進行分析,並出具相關的分析結果。若試驗目的是研究某種新型攻擊,則分析其機理;若試驗目的是檢驗某個安防產品,則分析其安全缺陷。

綠方的一系列工作,有助於我們了解靶場中發生的所有安全事件,正確分析網路靶場的態勢,作出更准確的評估。

網路靶場有三種類型的應用模式:內打內、內打外、外打內。此外還有分布式網路靶場模式。

紅、藍雙方都在靶場內。內打內應用模式主要有CTF線下安全競賽、紅藍攻防對抗賽和科學試驗等。

CTF(Capture The Flag)即奪旗賽,其目標是從目標網路環境中獲取特定的字元串或其他內容(Flag)並且提交(Capture The Flag)。

科學試驗是指科研人員針對新型網路技術進行的測試性試驗,根據試驗結果對新技術進行反饋迭代。

內打外即紅方在靶場內,藍方在靶場外。

外打內即紅方在靶場外,藍方在靶場內,典型應用是安全產品評測。

為什麼會有這個需求呢?通常,我們要知道一個安全設備好不好用、一個安全方案是不是有效,有幾種方法:第一,請專業的滲透測試,出具滲透測試報告,但這種只能測一次的活動,叫靜態測試。可是大家清楚,即使今天測過了,明天產品、方案也可能會出現新的問題和漏洞。那麼,「靶場眾測」的場景就出來了。把實物或者虛擬化的產品/方案放到靶場,作為靶標讓白帽子盡情「攻擊」。如果把它攻垮了,我們就知道哪裡有問題了,這種開放測試,由於眾多白帽子的參與、以及不影響生產環境不會造成後果、能放開手腳「攻擊」,效果比聘請幾個專家去現場測試要好的多。如果產品一直放在靶場,就可以在長期的眾測中不斷發現問題,促進產品持續迭代提升。

分布式靶場即通過互聯多個網路靶場,實現網路靶場間的功能復用、資源共享。由於單個網路靶場的處理能力和資源都是有限的,分布式靶場可以將多個網路靶場的資源綜合利用起來,並且這種利用對於使用人員是透明的。

比如,現有一個銀行網路靶場A和一個電力網路靶場B,當前有一個試驗任務既需要銀行網路環境,又需要電力網路環境。那麼我們可以將現有的A、B兩個網路靶場互聯起來展開試驗。

分布式靶場能夠連接各行各業的網路靶場,更大程度上實現全方位綜合互聯網路逼真模擬。

網路靶場存在三個主要科學問題,這三個問題反映了網路靶場在關鍵技術上面臨的挑戰。

1)建得快

網路靶場用戶眾多,還會出現多個用戶同時使用的情況,但是大部分用戶的使用時間不長,這就需要網路靶場目標網路包括網路環境要能夠快速生成、快速擦除回收,特別是節點數量較大的應用,是一項技術上重大的挑戰。沒有過硬的網路構建能力,基礎設施以及虛擬化編排技術是很難實現的。

2)仿得真

由於網路靶場是用有限的資源仿造真實網路,大部分要素需要虛擬化,而非實物。因此如何逼真的模擬目標網路元素是一項持續的挑戰問題。網路靶場中,一台實物路由器的功能是否都在其虛擬設備上具備?如果功能缺失,是否會對靶場應用造成影響?靶標、網路環境、虛擬設備、背景流量的逼真模擬同理,網路環境模擬還需要服務於靶場具體應用場景,這些都依賴於長期的積累。

網路靶場綠方主要有以下挑戰:

1、如何針對網路靶場運行中產生的大量數據進行針對性的採集?

2、只要是採集就要有接觸(比如醫學檢驗,可能要抽血,可能要有儀器深入身體),有接觸就有影響(影響目標網路的計算資源、網路資源……),如何使影響盡量小,如何平衡這種影響和採集全面、准確性?

3、如何基於採集到的多樣、海量的數據,分析、提煉、評估出靶場綠方需要得出的信息?

這是對探針採集能力、大數據關聯能力、事件分析還原能力、安全知識圖譜能力的綜合考驗。

1、網路靶場多個試驗同時進行,必須保證試驗間互相獨立,互不幹擾。就像多個房間在射擊打靶,不能從這個房間打到另一個房間去了。

2、目標網路和分析網路必須嚴格安全隔離,即紅方和綠方、白方、黃方要安全隔離,不能紅方把綠方打癱了,也就是參加比賽的人把裁判系統攻陷了,同時試驗間的角色、系統間也需要安全隔離。

3、同時,安全隔離的同時不能影響網路靶場運行的性能。

⑺ 電路模擬的Multisim

Multisim是美國國家儀器(NI)有限公司推出的以Windows為基礎的模擬工具,適用於板級的模擬/數字電路板的設計工作。它包含了電路原理圖的圖形輸入、電路硬體描述語言輸入方式,具有豐富的模擬分析能力。
其特點如下:
Ø 直觀的圖形界面
整個操作界面就像一個電子實驗工作台,繪制電路所需的元器件和模擬所需的測試儀器均可直接拖放到屏幕上,輕點滑鼠可用導線將它們連接起來,軟體儀器的控制面板和操作方式都與實物相似,測量數據、波形和特性曲線如同在真實儀器上看到的;
Ø 豐富的元器件
提供了世界主流元件提供商的超過17000多種元件,同時能方便的對元件各種參數進行編輯修改,能利用模型生成器以及代碼模式畢答絕創建模型等功能,創建自己的元器件。
Ø 強大的模擬能力
以SPICE3F5和Xspice的內核作為模擬的引擎,通過Electronic workbench 帶有的增強設計功能將數字和混合模式的模擬性能進行優化。包括SPICE模擬、RF模擬、MCU模擬、VHDL模擬、電路向導等功能。
Ø 豐富的測試儀器
提供了22種虛擬儀器進行電路動作的測量:
Multimeter(萬用表)
Function Generatoer(函數信號發生器)
Wattmeter(瓦特表)
Oscilloscope(示波器)
Bode Plotter(波特儀)
Word Generator(字元發生器
Logic Analyzer(邏輯分析儀)
Logic Converter(邏輯轉換儀)
Distortion Analyer(失真度儀)
Spectrum Analyzer(頻譜儀)
Network Analyzer(網路分析儀)
Measurement Pribe(測量探針)
Four Channel Oscilloscope(四蹤示波器)
Frequency Counter(頻率計數器)
IV Analyzer(伏安特性分析儀)
Agilent Simulated Instruments(安捷倫模擬儀器)
Agilent Oscilloscope(安捷倫示波器)
Tektronix Simulated Oscilloscope(泰克模擬示波器)
Voltmeter(伏特表)
Ammeter(安培表)
Current Probe(電流探針)
Lab VIEW Instrument(Lab VIEW儀器)
這些儀器的設置和使用與真實的一樣,動態互交顯示。除了Multisim提供的默認的儀器外,還可以創建LabVIEW的自定義儀器,使得圖形環境中可以靈活地可升級地測試、測量及控制應用程舉手序的儀器。
Ø 完備的分析手段
Multisimt提供了許多分析功能:
DC Operating Point Analysis(直流工作點分析 )
AC Analysis(交流分析)
Transient Analysis(瞬態分析)
Fourier Analysis(傅里葉分析)
Noise Analysis(雜訊分析)
Distortion Analysis(失真度分析)
DC Sweep Analysis(直流掃描分析)
DC and AC Sensitvity Analysis(直流和交流靈敏度分析)
Parameter Sweep Analysis(參數掃描分析)
Temperature Sweep Analysis(溫度掃描分析)
Transfer Function Analysis(傳輸函數分析)
Worst Case Analysis(最差情況分析) Pole Zero Analysis(零級分析)
Monte Carlo Analysis(蒙特卡羅分析)
Trace Width Analysis(線寬分析)
Nested Sweep Analysis(嵌套掃描分析)
Batched Analysis(批處理分析)
User Defined Analysis(用戶自定義分析)
它們利用模擬產生的數據執行分析,分析范圍很廣,從基本的到極端的到不常見手姿的都有,並可以將一個分析作為另一個分析的一部分的自動執行。集成LabVIEW和Signalexpress快速進行原型開發和測試設計,具有符合行業標準的互動式測量和分析功能;
Ø 獨特的射頻(RF)模塊
提供基本射頻電路的設計、分析和模擬。射頻模塊由RF-specific(射頻特殊元件,包括自定義的RF SPICE模型)、用於創建用戶自定義的RF模型的模型生成器、兩個RF-specific儀器(Spectrum Analyzer頻譜分析儀和Network Analyzer網路分析儀)、一些RF-specific分析(電路特性、匹配網路單元、雜訊系數)等組成;
Ø 強大的MCU模塊
支持4種類型的單片機晶元,支持對外部RAM、外部ROM、鍵盤和LCD等外圍設備的模擬,分別對4 種類型晶元提供匯編和編譯支持;所建項目支持C代碼、匯編代碼以及16進制代碼,並兼容第三方工具源代碼; 包含設置斷點、單步運行、查看和編輯內部RAM、特殊功能寄存器等高級調試功能。
Ø 完善的後處理
對分析結果進行的數學運算操作類型包括算術運算、三角運算、指數運行、對數運算、復合運算、向量運算和邏輯運算等;
Ø 詳細的報告
能夠呈現材料清單、元件詳細報告、網路報表、原理圖統計報告、多餘門電路報告、模型數據報告、交叉報表7種報告;
Ø 兼容性好的信息轉換
提供了轉換原理圖和模擬數據到其他程序的方法,可以輸出原理圖到PCB布線(如Ultiboard、OrCAD、PADS Layout2005、P-CAD和Protel);輸出模擬結果到MathCAD、Excel或LabVIEW;輸出網路表文件;向前和返回注;提供Internet Design Sharing(互聯網共享文件)

⑻ 電路板的測試方法

1、針床法

這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上的每一個檢測點。彈簧使每個探針具有100 - 200g 的壓力,以保證每個檢測點接觸良好,這樣的探針排列在一起被稱為"針床"。在檢測軟體的控制下,可以對檢測點和檢測信號進行編程,檢測者可以獲知所有測試點的信息。

實際上只有那些需要測試的測試點的探針是安裝了的。盡管使用針床測試法可能同時在電路板的兩面進行檢測,當設計電路板時,還是應該使所有的檢測點在電路板的焊接面。針床測試儀設備昂貴,且很難維修。針頭依據其具體應用選不同排列的探針。

一種基本的通用柵格處理器由一個鑽孔的板子構成,其上插針的中心間距為100 、75 或50mil。插針起探針的作用,並利用電路板上的電連接器或節點進行直接的機械連接。如果電路板上的焊盤與測試柵格相配,那麼按照規范打孔的聚醋薄膜就會被放置在柵格和電路板之間,以便於設計特定的探測。

連續性檢測是通過訪問網格的末端點(已被定義為焊盤的x-y 坐標)實現的。既然電路板上的每一個網路都進行連續性檢測。這樣,一個獨立的檢測就完成了。然而,探針的接近程度限制了針床測試法的效能。

2、觀測

電路板體積小,結構復雜,因此對電路板的觀察也必須用到專業的觀測儀器。一般的,我們採用攜帶型視頻顯微鏡來觀察電路板的結構,通過視頻顯微攝像頭,可以清晰從顯微鏡看到非常直觀的電路板的顯微結構。通過這種方式,比較容易進行電路板的設計和檢測。

3、飛針測試

飛針測試儀不依賴於安裝在夾具或支架上的插腳圖案。基於這種系統,兩個或更多的探針安裝在x-y 平面上可自由移動的微小磁頭上,測試點由CADI Gerber 數據直接控制。雙探針能在彼此相距4mil 的范圍內移動。探針能夠獨立地移動,並且沒有真正的限定它們彼此靠近的程度。

帶有兩個可來回移動的臂狀物的測試儀是以電容的測量為基礎的。將電路板緊壓著放在一塊金屬板上的絕緣層上,作為電容器的另一個金屬板。假如在線路之間有一條短路,電容將比在一個確定的點上大。如果有一條斷路,電容將變小。

(8)網路分析儀如何與探針台連接擴展閱讀

分類

1、單面板

在最基本的PCB上,零件集中在其中一面,導線則集中在另一面上。因為導線只出現在其中一面,所以這種PCB叫作單面板(Single-sided)。因為單面板在設計線路上有許多嚴格的限制(因為只有一面,布線間不能交叉而必須繞獨自的路徑),所以只有早期的電路才使用這類的板子。

2、雙面板

這種電路板的兩面都有布線,不過要用上兩面的導線,必須要在兩面間有適當的電路連接才行。這種電路間的「橋梁」叫做導孔(via)。導孔是在PCB上,充滿或塗上金屬的小洞,它可以與兩面的導線相連接。

因為雙面板的面積比單面板大了一倍,雙面板解決了單面板中因為布線交錯的難點(可以通過導孔通到另一面),它更適合用在比單面板更復雜的電路上。

3、多層板

為了增加可以布線的面積,多層板用上了更多單或雙面的布線板。用一塊雙面作內層、二塊單面作外層或二塊雙面作內層、二塊單面作外遲含層的印刷線路板,通過定位系統及絕緣粘結材料交替在一起且導電圖形按設計要求進行互連的印刷線路板就成為四層、六層印刷電路板了,也稱為多層印刷線路板。

板子的層數並不代表有幾層獨立的布線層,在特殊情況下會加入空層來控制板厚,通常層數都是偶數,並且包含最外側的兩層。大部分的碼嫌笑主機板都是4到8層的結構,不過技術上理論可以做到近100層的PCB板。

大型的超級計算機大多使用相當多層的主機板,不過因為這類計算機已經可以用許多普通計算機的集群代替,超多層板已經漸漸不被使用了。因為PCB中的各層都緊密的結者亮合,一般不太容易看出實際數目,不過如果仔細觀察主機板,還是可以看出來。

⑼ 什麼是動態熱機械分析

<p>動態熱機械分析</p>
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動態熱機械分析(Dynamic
Thermomechanic
Analysis,簡稱DMA)是在程序控制溫度下,測量物質在振盪負荷下的動態模量或阻尼隨溫度變化的一種技術。</p>
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高聚物是一種粘彈性物質,因此在交變力的作用下其彈性部埋沒早分及粘性部分均有各自的反應。而這種反應又隨溫度的變化而改變。高聚物的動態力學行為能模擬實際使用情況,而且它對玻璃化轉變、結晶、交聯、相分離以及分子鏈各層次的運動都十分敏感,所以它是研究高聚物分子運動行為極為有用的方法。</p>
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如果施加在試樣上的交變應力為σ,則產生應變為ε。由於高聚物粘彈性的關系其應變將滯後於應力彎雀,則ε、σ分別可以下式表示:</p>
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ε=ε0exp(iωt)
(1)</p>
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σ=σ0exp[i(ωt+δ)]
(2)</p>
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式中ε0、σ0分別為最大振幅的應變和應力,ω為交變力的角頻率,δ為滯後相位角。</p>
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i=1時,復數模量E*</p>
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E*=
σ/ε=σ0
exp(iδ)/ε0=σ0(cosδ+isinδ)/ε0=E'+E"
(3)</p>
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其中,E'=σ0cosδ/ε0
為實數模量,即模量的儲能部分,而</p>
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E"=σ0sinδ/ε0
(4)</p>
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表示與應變相差π/2的虛數模量,是能量的損耗部分。另外還有用內耗因子Q^(-1)或損失角δ正切tanδ來表示損耗,即</p>察脊
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Q^(-1)=tan
δ
=E"/E'
(5)</p>
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[圖1、圖2
見附圖]</p>
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圖1為粘彈性物質在正弦交變載荷下的應力、應變的相應關系示意圖。因此在程序控溫的條件下不斷地測定高聚物E』、E」和tanδ值,則可得到如圖2所示的動態力學-溫度譜。從圖中可以看到實數模量E』呈階梯狀下降,而在與階梯下降相對應的溫度區E」和tanδ則出現高峰。表明在這些溫度區內高聚物分子運動發生某種轉變,即某種運動的解凍。其中對非晶態高聚物而言,最主要的轉變當然是玻璃化轉變,所以模量明顯下降,同時分子鏈段克服環境粘性運動而消耗能量,從而出現與損耗有關的E」和tanδ高峰。</p>
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⑽ 晶振頻率的測量方法,

晶振測量

晶振對電容負載較敏感,當使用×1擋時,探頭電容相對較大,相當於一個很重的負載並聯李裂在晶振電路中,很容易使其停止振盪,因此我們使用10X檔的探頭更佳。

我們將示波器通道設置為交流耦合,10X檔位。確保晶振主板上電運行後,拔掉探頭的套子,露出探針。將賣握探頭夾子接到主板地線即供電負極端,探針針尖接觸到晶振的其中一個引腳。

另外,晶振的輸出邊沿一般比較陡,上升時間較短,因為晶振的輸出中包含了較多的高頻分量,因此應該將其當作高頻信號來看待。探頭×1擋的帶寬有限制,而探頭×10擋是全帶寬開啟的,因此必須選用×10擋進行測中擾慶量。